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一種可溯源白光干涉原子力探針自動定位工件方法
本發明公開了一種可溯源白光干涉原子力探針自動定位工件方 法，該方法包括如下步驟：在納米級位移平臺運動之前記錄下激光干 涉位移計量系統的初始位移；接著其在垂直方向上快速產生一個適量 的位移，在位移發生后通過零級條紋的移動量是否在閾值范圍內來判 斷原子力探針是否定位到工件，而如果納米級垂直位移平臺在到達極 限的位移運動時還未定位到工件，記錄下其最終位置，并將納米級垂 直位移平臺復位，重復上述步驟，直至定位到工件。按照本發明設定 的自動定位的方法，不受原子力探針與工件之間的距離限制，同時在定位過程中對位移進行計量，可實現可溯源，而采用零級條紋的移動 量來判斷探針是否定位到工件具有定位快速和高精度的顯著效果。
華中科技大學
2021-04-11
共焦白光偏振干涉的多層透明介質厚度測量裝置和方法
本發明屬于白光干涉測厚領域，并公開了共焦白光偏振干涉的 多層透明介質厚度測量裝置和方法。包括被測物、第三透鏡、第二透 鏡、第二小孔構成共焦結構，平行白光經第二棱鏡后，一束作為測量 光束經第三透鏡匯聚到被測表面，另一束作為參考光束經過多次反射 后與從被測表面反射回來的測量光束發生干涉，在第二棱鏡和第二透 鏡之間設置提高干涉條紋的對比度的可旋轉偏振片，實現在第一圖像 傳感器上形成高對比度干涉條紋。本發明還公開了利用上述裝置進行 測量的方法。
華中科技大學
2021-04-14
一種基于白光干涉定位原理的比較儀及其檢測方法
本發明公開了一種基于白光干涉定位原理的比較儀及其測量方法，該比較儀包括測量探針、測量物鏡、干涉顯微鏡、垂直掃描工作臺、滑塊、CCD 成像單元、立柱、移動量檢測單元以及水平工作臺，其中垂直掃描工作臺設置在立柱上，并由粗驅機構上下驅動；干涉顯微鏡和 CCD 成像單元固定在設置于垂直掃描工作臺的滑塊上，并由精驅機構上下驅動；移動量檢測單元對滑塊的移動量進行檢測輸出；測量探針可繞樞軸轉動地設置在與干涉顯微鏡鏡體豎直相連的支撐桿上，用于對被測對象相接觸；測量物鏡用于對光進行匯聚并形成干涉條紋。通過本發明，能夠
華中科技大學
2021-04-14
一種五自由度的白光干涉原子力探針位姿調整機構
本發明公開了一種原子力探針位姿調整機構。包括探針座，調 節機構和連接頭。其中探針座用于原子力探針的安裝固定;調節機構 包括由下至上的第一調節部件、第二調節部件、第三調節部件以及第 四調節部件，分別用于原子力探針的里外水平偏擺、左右水平和上下 旋轉、上下俯仰以及上下豎直位姿調節;連接頭用于與顯微物鏡相連。 本發明能夠實現原子力探針姿態在五個自由度上的細微調節，各個調 節動作相互獨立，彼此不發生干涉，互不影響，提高了探針姿態的調 節精度;且能夠對調節后的位姿進行鎖定，使其保持穩定。
華中科技大學
2021-04-14
一種白光干涉原子力探針系統的成像自動調整裝置及其控制方 法
本發明公開了一種基于白光干涉原子力探針掃描顯微鏡探針系 統的成像自動調整裝置自動及其控制方法，該裝置主要包括計算機， 夾持機構及鉸鏈機構，原子力探針及其探針組件，白光干涉顯微系統， 面 CCD 光路連接筒。在白光干涉原子力探針顯微鏡連接完成的情況 下，根據面 CCD 上探針的成像與面 CCD 坐標系的水平夾角，通過計算機來控制舵機偏轉一定的角度，使得原子力探針在面 CCD 中的成像 與面 CCD 坐標系中的夾角在誤差范圍內，從而得到測量的結果有較小 的測量誤差。本發明可以實現探針在面 CCD 中的成
華中科技大學
2021-04-14
高速白光掃描儀
產品詳細介紹
一、 Panowin T1技術原理
Panowin T1基于結構光雙目視覺三角測量原理，由兩臺數字相機，結構光投影儀及中央控制電路“光機電”高度融合而成。系統將多組光柵條紋投影到物體表面，數字相機從不同角度拍攝物體表面條紋圖案，并將條紋圖像輸入計算機；計算機根據相位法和三角法等解析條紋曲率變化，精確計算出每個像素對應物體表面的空間坐標（X、Y、Z），獲得物體形面三維點云數據（Point Cloud）。
二、 產品優勢
白光掃描：采用白光技術，比激光、紅外掃描的精度更高，單幅掃描精度高達0.1mm。
極速掃描：全自動掃描模式，掃描一圈只需要2.5min，速度是同類轉臺掃描儀的翹楚。
工業鏡頭：采用300萬像素的高分辨率工業相機，掃描精細度比130/200萬像素更好。
彩色逼真：24位真彩色高級相機，比黑白相機能更真實地獲取物體表面的顏色信息。
簡單易用：無需專業門檻，十分鐘培訓上手，傻瓜式操作，即可輕松掃描完一個物品。
一鍵掃描：全自動掃描，智能拼接，掃描過程無需人工干預，一鍵輸出數據。
安全光源：采用LED冷光源，對比激光掃描，對眼睛無害，學生使用更安全。
無縫對接：掃描好的stl數據，無需編輯，可直接輸入到3d打印機進行打印。
三、 應用領域
STEAM教育、3D創客創新教育、設計師工業設計、產品逆向創新設計等。
磐紋科技（上海）有限公司
2021-08-23
激光柱面干涉儀
已有樣品/n激光柱面干涉儀主要用于柱面光學零件面形誤差的檢測和柱面半徑的精確測定， 它采用立式檢測結構， 調試操作方便， 并裝有干涉條紋顯示系統， 是今后光學柱面鏡加工與檢測的必備測試儀器。
中國科學院大學
2021-01-12
白光LED用陶瓷熒光體
功率型白光LED器件由于具有方便解決白光分檔、制備方便、使用靈活、不含有機物、全無級封裝、顯著延長白光LED的壽命、發光穩定、徹底解決熱猝滅導致的光衰和光色不穩等優勢，附加值高、，是市場的焦點，也代表著該行業的發展趨勢。據預測，整個白光LED市場可達到每年200億美金的市場規模，占通用照明領域的比例高達80%
江蘇師范大學
2021-04-11
垂直結構大功率白光 LED
成果簡介對于大電流注入下的高功率 LED 而言， 光衰是 LED 普遍存在的問題。 主要原因有載流子在多量子阱（MQW） 上的溢出（overflow）； LED 芯片的晶體內部的缺陷導致的非輻射復合； 在大注入條件下， 載流子分布的不均勻； 以及 LED 結構設計合理性等原因； 這些因素在 LED 材料生長過程中（采用 MOCVD 技術） 就已經決定。 而大功率 LED 在實際應用過程中另外一個瓶頸就是芯片的熱輸運處理問題。 在大注入條件下， 過高的 pn 結結溫， 導致
安徽工業大學
2021-04-14
白光的色散與合成演示器
寧波浪力儀器有限公司（余姚市朗?？平虄x器廠）
2021-08-23