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適用于 IC 裝備工件定位運動臺的仿真系統及其建模方法
本發明公開了一種適用于 IC 裝備工件定位運動臺的仿真系統及 建模方法，該方法包括:獲取運動臺基礎部件的部件模型，將所述部 件模型以學科領域進行分類，構建部件級多領域模型庫;選用部件級 多領域模型庫中的部件模型，構建功能模塊級模型庫;選用所述功能 模塊級模型庫中的模型構建系統級模型;對系統級模型進行檢查，檢 查無誤后設定模型參數，以完成運動臺仿真系統的建模。該系統包括部件級多領域模型庫、功能模塊級模型庫、系統級模型、模型編譯及 仿真模塊、輸出模塊。上述部件級多領域模型庫、功能模塊
華中科技大學
2021-04-14
一種基于電磁波傳播特性的室內測距定位方法
本發明提出一種基于電磁波傳播特性的室內測距定位方法，基于定位系統實現，在定位解算服務器 建立控制點信息表和電磁波傳播模型表，預先在需要提高定位精度的目標區域內布設若干的定位標簽作 為控制點，測量各控制點的坐標，計算各控制點與每個錨點之間的真實距離，將控制點坐標及控制點與 錨點的真實距離寫入控制點信息表；計算每個控制點到每個錨點之間的真實距離與觀測距離的差，作為 距離修正值寫入電磁波傳播模型表；對用戶標簽進行室內定位時，根據電磁波傳播模型表或者控
武漢大學
2021-04-14
山體背景熱場模型約束的地下熱源晝間遙感探測定位方法
本發明公開了一種山體背景熱場模型約束的地下熱源晝間遙感·769·探測定位方法，屬于遙感技術、自然地理和模式識別的交叉領域，意在于對山體背景進行熱場仿真，得到山體背景的熱場模型，以熱場模型為約束，對原始遙感紅外圖像進行背景濾波，清晰的揭示地下目標所在的位置。本發明包括山體背景熱場模型建立步驟、山體背景熱場8 位到 16 位映射步驟、利用映射后的山體背景熱場模型進行背景濾波步驟、地下目標空間約束均值聚類探測
華中科技大學
2021-04-14
一種基于白光干涉定位原理的比較儀及其檢測方法
本發明公開了一種基于白光干涉定位原理的比較儀及其測量方法，該比較儀包括測量探針、測量物鏡、干涉顯微鏡、垂直掃描工作臺、滑塊、CCD 成像單元、立柱、移動量檢測單元以及水平工作臺，其中垂直掃描工作臺設置在立柱上，并由粗驅機構上下驅動；干涉顯微鏡和 CCD 成像單元固定在設置于垂直掃描工作臺的滑塊上，并由精驅機構上下驅動；移動量檢測單元對滑塊的移動量進行檢測輸出；測量探針可繞樞軸轉動地設置在與干涉顯微鏡鏡體豎直相連的支撐桿上，用于對被測對象相接觸；測量物鏡用于對光進行匯聚并形成干涉條紋。通過本發明，能夠
華中科技大學
2021-04-14
一種二次激發型橙紅色熒光粉及其制備方法
本發明涉及一種二次激發型橙紅色熒光粉及其制備方法，屬于發光材料技術領域。熒光粉為Sr1-a-bCa1-x-cAl2-yMexREyO4S:aEu2+,bDy3+,cTm3+。式中Me為Zn、Cd、Mg中至少一種，RE為Ga、Zn、Ge、Si中至少一種；其中0
四川大學
2021-04-11
一種二次激發型橙黃色熒光粉及其制備方法
本發明涉及一種二次激發型橙紅色熒光粉及其制備方法，屬于發光材料技術領域。熒光粉為Sr1-a-bCa1-x-cAl2-yMexREyO4S:aEu2+,bDy3+,cTm3+。式中Me為Zn、Cd、Mg中至少一種，RE為Ga、Zn、Ge、Si中至少一種；其中0
四川大學
2021-04-11
一種二次激發型黃綠色熒光粉及其制備方法
本發明涉及一種二次激發型黃綠色熒光粉及其制備方法，屬于發光材料技術領域。熒光粉的組成為Srx-a-cAl3+2x-zY5-b-yREyMzO12+4x:aEu2+,bCe3+,cDy3+，其中RE為Tb、Gd、Lu中的至少一種；M為Ga、Zn、Ge、Si中的至少一種；0
四川大學
2021-04-11
一種適用于多道次壓縮的本構模型的建立方法
本發明公開了一種適用于多道次壓縮的本構模型的建立方法， 目的在于提供一種測定多道次壓縮過程中的本構模型的方法，解決現 有技術存在的多道次壓縮帶來再結晶引起的應力軟化原有本構模型的 影響問題。本發明既能反應材料在多道次壓縮過程中的微觀組織演變， 也能描述宏觀的材料流動行為，適用于多道次壓縮過程的物理基和唯 像型結合的本構模型。與現有技術相比，使用本發明得到的本構模型 與實際的工藝過程相符。通過實際檢測證明，該方法不僅適
華中科技大學
2021-04-14
一種發電機組一次調頻性能的綜合評價方法
本發明提供一種發電機組一次調頻性能的綜合評價方法，包括 以下步驟：確定評價發電機組一次調頻性能指標，規范化處理發電機 組一次調頻性能指標，用主客觀權重結合法確定發電機組一次調頻性 能指標的權重，基于物元可拓法評價發電機組一次調頻性能的等級。 本發明引入動態的一次調頻性能指標，且結合了主觀權重和客觀權重 的優點求取一次調頻性能指標的權重，基于物元可拓法對發電機組一 次調頻性能進行綜合評價，評價結果客觀、合理、全面，為電力系統調度部門的考核工作奠定基礎。
華中科技大學
2021-04-14
一種基于磁納米粒子一次諧波幅值的成像方法
本發明公開了一種基于磁納米粒子一次諧波幅值的成像方法。采用交流磁化強度一次諧波幅值實現磁納米濃度成像，只需在一個方向施加高頻正弦磁場并在不同方向提供掃描磁場便可實現一維、二維以及三維空間的掃描；用低頻三角波掃描磁場或低頻正弦波掃描磁場控制空間區域零磁場點的位置，求解出不同空間位置的磁納米粒子的一次諧波幅值，最終實現磁納米濃度成像，從而避免了通過改變直流電源的大小來移動零磁場點掃描空間，有效提高了磁納米粒子成像的
華中科技大學
2021-04-14