本發明公開了一種基于磁納米粒子一次諧波幅值的成像方法。采用交流磁化強度一次諧波幅值實現磁納米濃度成像,只需在一個方向施加高頻正弦磁場并在不同方向提供掃描磁場便可實現一維、二維以及三維空間的掃描;用低頻三角波掃描磁場或低頻正弦波掃描磁場控制空間區域零磁場點的位置,求解出不同空間位置的磁納米粒子的一次諧波幅值,最終實現磁納米濃度成像,從而避免了通過改變直流電源的大小來移動零磁場點掃描空間,有效提高了磁納米粒子成像的 項目階段: 試用 會員登錄可查看 合作方式、專利情況及聯系方式 登 錄 注 冊 掃碼關注,查看更多科技成果