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一種基于點(diǎn)云與影像數(shù)據(jù)的三維可視化方法和系統(tǒng)
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于點(diǎn)云與影像數(shù)據(jù)的三維可視化方法和系統(tǒng)，其中方法的實(shí)現(xiàn)包括：采集目標(biāo)場(chǎng)景的影像數(shù)據(jù)和點(diǎn)云數(shù)據(jù)；對(duì)點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行上采樣，將上采樣后的點(diǎn)云數(shù)據(jù)投影到影像數(shù)據(jù)中進(jìn)行融合，對(duì)進(jìn)行融合后的點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行著色，得到彩色點(diǎn)云數(shù)據(jù)；利用彩色點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行三維渲染，得到目標(biāo)場(chǎng)景的三維可視化模型。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了從數(shù)據(jù)采集和融合到最終渲染顯示的點(diǎn)云三維可視化，有助于激光點(diǎn)云技術(shù)的拓展，提高了點(diǎn)云數(shù)據(jù)對(duì)于普通用戶的可訪問(wèn)性和
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種單分散氧化鎵粉體及其高密度陶瓷靶材的制備方法
一種單分散氧化鎵粉體及其高密度陶瓷靶材的制備方法 發(fā)明專利/實(shí)用新型/：發(fā)明授權(quán) 簡(jiǎn)介：本發(fā)明公開(kāi)了一種單分散氧化鎵粉體及其高密度陶瓷靶材的制 備方法，其將純度為 99.99％以上的金屬鎵原料溶解于酸中，配制澄清 的鎵鹽溶液，加入沉淀劑產(chǎn)生沉淀物，將獲得的沉淀經(jīng)洗滌、過(guò)濾、 干燥、煅燒制成單分散超細(xì)氧化鎵粉體；用合成的單分散氧化鎵粉體 作為原料，經(jīng)模壓成型和冷等靜壓強(qiáng)化獲得氧化鎵生坯，將生坯放在 高溫爐
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種鋁合金周期性點(diǎn)陣多孔結(jié)構(gòu)的快速成形制造方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種鋁合金周期性點(diǎn)陣多孔結(jié)構(gòu)的快速成形制造 方法。通過(guò) CAD 軟件構(gòu)建基于點(diǎn)陣單元的周期性點(diǎn)陣多孔結(jié)構(gòu)的三維 模型，將模型以 STL 格式輸出，導(dǎo)入到 SLM 成形設(shè)備中，激光束根 據(jù)切片層的數(shù)據(jù)選擇性地熔化區(qū)域內(nèi)的鋁合金粉末得到二維的金屬結(jié) 構(gòu)，經(jīng)層層堆積最終可以得到與 CAD 模型一致的三維鋁合金多孔結(jié) 構(gòu)，再經(jīng)過(guò)熱處理、分離、噴砂等后續(xù)處理即可得到表面光潔、性能 良好的鋁合金周期性點(diǎn)陣多孔結(jié)構(gòu)。本
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于大規(guī)模無(wú)序圖像的多起點(diǎn)增量式三維重建方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于大規(guī)模無(wú)序圖像的多起點(diǎn)增量式三維重·699·建方法,包括圖像匹配與匹配關(guān)系圖構(gòu)建、重建起點(diǎn)選擇、邊界檢測(cè)、多起點(diǎn)三維重建和子模型拼接的步驟；利用聚類和迭代漂移的策略，自適應(yīng)地從無(wú)序圖像集合中選取適合作為起點(diǎn)的圖像對(duì)同時(shí)開(kāi)始重建；在重建開(kāi)始之前，根據(jù)分層最短路徑算法確定每幅圖像的最佳重建子過(guò)程，確定重建邊界；并根據(jù)不同子過(guò)程得到的子模型，通過(guò)其包含的公共部分進(jìn)行拼接，獲得完整的三維重建
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于二維激光掃描的掘進(jìn)機(jī)掘進(jìn)窗口快速檢測(cè)方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于二維激光掃描的掘進(jìn)機(jī)掘進(jìn)窗口快速檢測(cè)方法，首先，對(duì)掘進(jìn)工作面分別進(jìn)行水平和垂直二維掃描，對(duì)采集到的原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行去離群點(diǎn)處理；然后，分別對(duì)去離群點(diǎn)之后的水平和垂直二維掃描點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行直線擬合、求中心線、確定基點(diǎn)的操作，完成窗口檢測(cè)的準(zhǔn)備工作；最后，輸入目標(biāo)距離，分別在水平與垂直中心線上，以基點(diǎn)為原點(diǎn)的目標(biāo)距離處作垂線與擬合得到的兩條直線相交，獲得點(diǎn)對(duì)，水平點(diǎn)對(duì)的空間距離是目標(biāo)距離處的掘進(jìn)窗
華中科技大學(xué)
2021-04-14
考慮可變壽命特性的確定電力系統(tǒng)調(diào)峰用電池儲(chǔ)能容量的方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種考慮可變壽命特性的確定電力系統(tǒng)調(diào)峰用電 池儲(chǔ)能容量的方法，將電力系統(tǒng)調(diào)峰用電池儲(chǔ)能的能源節(jié)約效益、環(huán) 保效益、容量替代效益進(jìn)行量化，并納入到容量規(guī)劃目標(biāo)中；計(jì)及電 池儲(chǔ)能的年運(yùn)行成本，并根據(jù)電池儲(chǔ)能運(yùn)行過(guò)程中其實(shí)際使用壽命和 放電深度的關(guān)系建立了電池儲(chǔ)能可變壽命模型，計(jì)算其建設(shè)投資成本 等年值，形成確定電力系統(tǒng)調(diào)峰用電池儲(chǔ)能容量的目標(biāo)函數(shù)。在考慮 系統(tǒng)功率平衡約束、系統(tǒng)備用約束、常規(guī)機(jī)組出力約束、火電機(jī)組爬 坡約束以及電池儲(chǔ)能運(yùn)行約束的基礎(chǔ)上，以年凈收益最大為目標(biāo)對(duì)模 型進(jìn)行求解。本
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種嵌入式微處理器非可克隆函數(shù)密鑰認(rèn)證系統(tǒng)和方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種嵌入式微處理器非可克隆函數(shù)密鑰認(rèn)證系統(tǒng)， 包括嵌入式端、燒寫設(shè)備端和 PC 端，嵌入式端包括 PUF 待分析數(shù)據(jù) 提取模塊以及 IAP 模塊，燒寫設(shè)備端包括待燒寫程序處理模塊，PC 端 包括嵌入式認(rèn)證程序生成模塊、PUF 分析模塊、數(shù)據(jù)庫(kù)模塊、散列數(shù) 據(jù)生成模塊、以及幫助數(shù)據(jù)生成模塊，PUF 待分析數(shù)據(jù)提取模塊用于 多次提取 SRAM 中的初始上電數(shù)據(jù)，并將數(shù)據(jù)發(fā)送到 PUF 分析模塊， PUF 分析
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種考慮風(fēng)速和負(fù)荷不確定性的風(fēng)機(jī)準(zhǔn)入容量檢測(cè)優(yōu)化方法
本申請(qǐng)公開(kāi)了一種考慮風(fēng)速和負(fù)荷不確定性的風(fēng)機(jī)準(zhǔn)入容量檢 測(cè)優(yōu)化方法，屬于含風(fēng)機(jī)的配電網(wǎng)安全穩(wěn)定研究領(lǐng)域。現(xiàn)有技術(shù)中， 都沒(méi)有考慮風(fēng)速的不確定性，并且網(wǎng)絡(luò)中的負(fù)荷處于波動(dòng)狀態(tài)，與風(fēng) 速結(jié)合起來(lái)，增加了不確定性因素的維度，本申請(qǐng)基于快速解耦法和 魯棒優(yōu)化理論，通過(guò)確定風(fēng)速和負(fù)荷的波動(dòng)范圍，提出了魯棒優(yōu)化方 法，該方法不僅可以實(shí)現(xiàn)在風(fēng)速和負(fù)荷不確定下的單點(diǎn)風(fēng)機(jī)準(zhǔn)入研究， 還可以計(jì)算多點(diǎn)接入時(shí)組合風(fēng)機(jī)的容量。
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種利用多請(qǐng)求隊(duì)列提升 IO 并行性和減少小 IO 延遲的方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種利用多請(qǐng)隊(duì)列提高 IO 并行性和減少小 IO 延 遲的方法，包括建立多個(gè)請(qǐng)求隊(duì)列的步驟和利用選擇策略使 IO 請(qǐng)求選 擇相應(yīng)的請(qǐng)求隊(duì)列進(jìn)行處理步驟，從而實(shí)現(xiàn) IO 請(qǐng)求并行運(yùn)行，其中選 擇策略包括：將每個(gè)進(jìn)程與一個(gè)請(qǐng)求隊(duì)列綁定，以使多個(gè)進(jìn)程上的 IO 請(qǐng)求平均分配到多個(gè)請(qǐng)求隊(duì)列上處理；將每個(gè) CPU 與一個(gè)請(qǐng)求隊(duì)列綁 定，以使多個(gè) CPU 上的 IO 請(qǐng)求平均分配到多個(gè)請(qǐng)求隊(duì)列上處理。本 發(fā)明還公開(kāi)了
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于缺陷區(qū)預(yù)判和水平集的 TFT-LCD Mura 缺陷檢測(cè)方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于缺陷區(qū)域預(yù)判和水平集的 TFT-LCD-Mura 缺陷檢測(cè)方法。該方法提出了一種缺陷區(qū)域預(yù)判法先找到缺陷區(qū)域， 然后將缺陷區(qū)域的像素剔除，用余下的像素?cái)M合得到背景圖像;用原 圖像減去背景圖像來(lái)消除背景不均勻性對(duì)缺陷分割的影響，求差后得 到殘差圖像，然后用一種基于閾值的水平集方法對(duì)殘差圖像進(jìn)行分割 來(lái)檢測(cè)得到缺陷。該方法可以獲得精度較高的背景圖像，對(duì)于光照影 響有較好的魯棒性，能夠獲得準(zhǔn)確的分割結(jié)果以及較低的誤檢率。
華中科技大學(xué)
2021-04-14