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一種基于缺陷區預判和水平集的 TFT-LCD Mura 缺陷檢測方法
2021-04-14 00:00:00
云上高博會
http://www.a00n.com
關鍵詞：
TFT-LCD Mura
所屬領域:
項目成果/簡介:
本發明公開了一種基于缺陷區域預判和水平集的 TFT-LCD-Mura 缺陷檢測方法。該方法提出了一種缺陷區域預判法先找到缺陷區域， 然后將缺陷區域的像素剔除，用余下的像素擬合得到背景圖像;用原 圖像減去背景圖像來消除背景不均勻性對缺陷分割的影響，求差后得 到殘差圖像，然后用一種基于閾值的水平集方法對殘差圖像進行分割 來檢測得到缺陷。該方法可以獲得精度較高的背景圖像，對于光照影 響有較好的魯棒性，能夠獲得準確的分割結果以及較低的誤檢率。
項目階段:
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