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產品詳細介紹 　　SOC710VP? 便攜高光譜成像光譜儀, 可以隨時隨地獲得光譜影像！ 無論是在溫室、 野外或者實驗室，SOC710VP 都能實時獲得400-1000nm波長范圍內的光譜數據。　　在農林業、植物科學、礦業、水環境及海洋學等應用領域內，SOC710VP 都是非常理想的高光譜成像系統，SOC710VP性能高、超便攜、堅固且性價比高。12-bit動態范圍的陣列成像CCD和精確的出廠標定使得獲得的數據誤差非常小。　　SOC710VP 采用內置掃描設計，不需要沉重且耗電的掃描云臺，設計非常緊湊、使用方便、便攜。USB 2.0 接口方便和各種電腦連接。軟件界面簡單易用。分析功能包括比色法、光譜輻射線測定和遙感方法。高質量數據：　　SOC710VP具有新式內置掃描設計及12-bit動態范圍的陣列成像CCD，能夠獲得的400-1000nm波長范圍的高質量數據。SOC710VP還配備了美國NIST（美國國家標準與技術研究院）溯源校準板，確保數據的準確性靈活性：　　SOC710VP可在飛機--通量塔--地面等不同尺度測量光譜數據并成像，或連接生物顯微鏡，測量微觀樣品的光譜信息；還可以進行定點長期連續測量，適應于各種應用環境便攜性：　　SOC710VP重量只有3Kgs，可以安裝在三腳架上進行野外移動式測量，USB接口方便和電腦連接使用    易用性：　　利用特制的多功能野外操作支架，SOC710可以非常方便地實現垂直向下測量，而不需要額外配備任何沉重耗電的其他部件，當然，這也得益于SOC系列成像光譜儀的內置式掃描設計。SOC710還可以僅通過多功能支架，即可實現360°掃描，使得野外操作極為便捷。下面是SOC710垂直使用示意圖，不需增加其他任何部件。技術參數：　光譜范圍：400-1000 nm　速度：30 行/秒    每行像素：696　23.2 秒/cube (696 by 520 cube)　分 辨 率：4.6875 nm　波　　段：128個　鏡頭類型：C-Mount　動態范圍：12-bit　重量：2.95 Kg (6.5 lbs)　校　　準：美國NIST溯源標準的校準板　尺寸：9.5 x 16.8 x 22cm  (3.75 x 6.62 x 8.66in.)　焦　　距：可調 (基于所用鏡頭)　耗電：12-VDC / 100-240VAC (50-60Hz)　　系統包括SOC分析軟件用來標定和數據分析，數據存儲格式為二進制，也可以通過第三方高光譜分析軟件讀取，如：ENVI軟件品牌發展　　SOC具有20多年光譜成像經驗，在實時光譜成像領域里具有多項專利，獲得美國海軍及陸軍多次SBIR獎，并獲得美國NASA科技創新獎軟件支持　　軟件更新，常見問題解答 ，軟件培訓和系統標定文檔都可從SOC在線支持站點下載 系統要求：　　Windows XP系統　　USB 2.0 接口　　1 G內存　　Intel Atom? class 處理器應用領域(僅列舉部分)： 環境遙感　　遙感定標　　地面驗證　　分類制圖　　航空遙感農林植物　　精準農業　　土地分類　　脅迫生理　　作物健康（病/蟲害檢測）　　果實品質檢測 水色水環境　　水質光譜測量　　藻類葉綠素測量　　水色遙感生物醫藥/食品　　顯微分析　　生化分析機械視察　　表面檢查　　機械視覺產地：美國SOC

一、產品介紹        光電成像基礎與應用實訓平臺包括CCD和CMOS兩大方面，這兩方面原理與應用是《光電技術》和《圖像傳感器應用技術》課程重要章節，也是教學的難點章節，因此，monxyuan開發了光電成像基礎與應用實訓平臺。該平臺采用搭建式、開放式設計，直觀展現了線陣CCD、面陣CCD和CMOS的工作原理，并且設置了工程實際檢測的實驗，是學生理解和認識CCD和CMOS工作原理與實際應用的最理想的教學實驗系統。 二、教學目的 1、了解并掌握線/面陣CCD和CMOS的原理； 2、了解線/面陣CCD和CMOS的軟件使用方法； 3、了解并掌握面陣CCD和CMOS信號處理方法； 4、了解并掌握運用面陣CCD和CMOS進行尺寸測量和圖像處理的方法； 5、了解并掌握學生掌握線陣CCD的幾種典型的應用； 三、實驗內容 1、面陣CCD 原理與驅動實驗； 2、面陣CCD 數據采集與計算機接口實驗； 3、面陣CCD 邊緣與輪廓檢測； 4、面陣CCD物體尺寸測量實驗； 5、面陣CCD 圖像的點運算； 6、面陣CCD 圖像的幾何變換； 7、面陣CCD 圖像采集與參數設置； 8、面陣CCD 投影與差影圖像分析； 9、面陣CCD 圖像的濾波與增強； 10、面陣CCD 形態學處理； 11、面陣CCD 旋轉與縮放； 12、面陣CCD 顏色識別與變換； 13、面陣CCD圖像采集程序設計；  14、線陣CCD 工作原理與驅動波形觀測； 15、線陣CCD 模擬輸出信號的調整； 16、通過采集卡對線陣CCD的模擬輸出信號進行A/D轉換和數據采集； 17、通過軟件浮動閾值對CCD的輸出信號進行二值化處理； 18、利用線陣CCD 對物體尺寸進行非接觸的實時測量； 19、利用線陣CCD 對物體的角度進行測量； 20、利用線陣CCD 測量物體的振動； 21、利用線陣CCD識別一維條形碼； 22、利用線陣CCD掃描物體的二維圖像； 23、利用外置相機進行實物尺寸測量 24、用硬件提取邊緣信號的二值化 25、CMOS原理與驅動實驗； 26、CMOS數據采集實驗； 27、CMOS圖像采集程序設計 28、CMOS用于邊緣與輪廓檢測實驗； 29、CMOS用于物體的尺寸測量實驗； 30、CMOS用于圖像采集與參數設置實驗； 31、CMOS用于投影與差影圖像分析實驗； 32、CMOS用于圖像的濾波與增強實驗； 33、CMOS用于顏色識別與變換實驗； 34、擴展性實驗     （1）通過提供的CPLD程序，學生可以了解CPLD對外圍器件的控制；     （2）有能力的學生還可以自己編程來產生方波；     （3）通過提供的SDK和DEMO程序，編寫程序來采集擴展相機的數字信號；     （4）利用擴展相機并編寫軟件進行其他如尺寸測量等實驗等； 四、配套文件資料 1、實驗指導書1本； 2、實驗軟件1套； 3、實驗錄像光盤1套；    客戶自行配置電腦及示波器    

產品詳細介紹萬深RootGA根系動態生長監測分析和顯微成像系統1、用途：定時自動成像霧培、水培、瓊脂培養基培、土培、沙培的盆栽農作物根系，并動態監測其根系生長速度，動態跟蹤根系細微結構、根尖數和根毛變化，以及根尖病變情況，宏觀動態統計分析不同時刻點根系的整體發展變化，還可分析洗凈根系情況，獲得根系生長的動態數據，以便科學客觀地評價植物生長質量相應關鍵因素，如分析：光照、水肥、溫濕度環境對生長與抗逆性的影響。2、系統組成：多組的自動對焦800萬像素多關節的大景深拍攝儀+背光套件+透明培養器皿套件，連續變焦單筒體視測量顯微鏡、500萬像素顯微相機、手動X-Y移動顯微平臺+上下光源，根系分析軟件和電腦（酷睿i5 8400 CPU /8G內存/500G硬盤/1G顯存/ 19.5”彩顯/無線網卡）。3、 主要性能指標：1）多關節的大景深拍攝儀+背光成像套件可在植物側面等位置上，在不同時刻點自動拍照跟蹤監測根系，自動生成根系的整體發展變化和生長的動態數據，動態圖示標記活體根系每天的新生長區和統計其對應的新生長根量，包括不同深度位置上的根量變化。系統具備對根系生長異常的預警機制。該動態跟蹤分析的根系成像視野為240mm寬*380mm高，自動拍照分析的時間間隔0.5-48小時可調（若定時拍照時間點前接入電腦，即可自動啟動拍照。1臺電腦能自動輪巡監測10個視野以內的作物植株原位根系動態變化（標配默認提供4套動態生長監測成像硬件，若要實時監測10個視野的作物植株原位根系，需配10套拍照成像組件）。1分鐘內自動拍完全部照片后，該監控電腦即可另做他用（不用被獨占）。2）可按被監控根系分塊區域圖像顯示根量隨時間變化的密度熱力圖，各部位的變化精細度可由分塊監控大小來自定義控制。根系軟件能自動生成根系生長的視頻，以便按時間節點來回溯查看。3）可對原位土培根系圖像進行交互引導分析、鎖定編輯根系路徑、修正根系的長短、粗細、位置等。具有鼠標編輯點的跟隨放大鏡。能自動拼接多張原位根系圖。4）可做洗凈根系分析：1)根總長；2)根平均直徑；3)根總面積；4)根總體積；5)根尖計數；6)分叉計數；7)交疊計數；8)根直徑等級分布參數；9)根尖段長分布，10)可不等間距地自定義分段直徑，自動測量各直徑段長度、投影面積、表面積、體積 等，及其分布參數；11)能進行根系的顏色分析，確定出根系存活數量，輸出不同顏色根系的直徑、長度、投影面積、表面積、體積。12)能進行根系的拓撲分析，自動確定根的連接數、關系角等，還能單獨地自動分析主根或任意一支側根的長度和分叉數等，可單獨顯示標記根系的任意直徑段相應各參數（分檔數、檔直徑范圍任意可改，可不等間距地自定義），并能進行根的分叉裁剪、合并、連接等修正，修正操作能回退，以快速獲得100%正確的結果。13)能用盒維數法自動測根系分形維數。可分析根瘤菌體積在根系中的占比，以客觀確定根瘤菌體貢獻量。14)大批量的全自動根系分析，對各分析結果圖可編輯修正。15)能做根系生物量分布的大批量自動化估算。16)能自動測量油菜、大豆等果莢的果柄、果身、果喙部分的粗細、長、弧長、玄高等參數。能自動測量各種粒的芒長。17)能測各類針葉的葉面積、長度、粗細。18)各分析圖像、分布圖、結果數據可保存，分析結果輸出至Excel表，可輸出分析標記圖。5）可單筒體視顯微鏡500萬像素彩色成像（最高可放大270倍），能自動拼接多張顯微根系圖，可分辨小至0.01mm的根毛，方便觀察根際細微結構、根尖數和根毛變化，以及根尖病變情況；手動X-Y移動顯微平臺可二維掃描微觀根系，獲得超高分辨率的大幅面根系圖像。

玻片掃描成像系統 招標項目的潛在投標人應在網上登記報名網址 http://sbcgczxxfb.sysc.tsinghua.edu.cn獲取招標文件，并于2022年06月21日 09點00分（北京時間）前遞交投標文件。

三維顱頜面部成像儀及診斷分析系統，解決傳統口腔臨床面臨的基于二維圖像顱面測量丟失深度信息的問題。 系統基于立體視覺原理，開發高效、準確（精度<=0.1毫米）的三維面部成像儀，獲取真實的面部軟組織立體表面數據，結合高精度CBCT（Cone Beam Computed Tomography，錐體束計算機斷層）圖像，融合包含顱頜面部和口腔等軟硬組織模型，重建出真實感三維顱頜面部數字模型。 同時，系統完成基于三維成像設備的臨床三維顱頜面部測量診斷分析系統，提高顱頜面畸形、性別分析、顱面生長等臨床診斷水平。 本研究結果為正畸科、正頜外科臨床定量化手術設計、術后療效評價提供新的技術方法，為正畸和正頜外科教學培訓、多學科會診及遠程會診提供新的工具，并為進一步的口腔虛擬手術及整形美容業的手術計劃研究提供測量和規劃工具。 三維顱頜面部成像儀及診斷分析系統，是牙頜數字化診療修復的基礎系統。據不完全統計，我國口腔醫療機構總數超過 12 萬，其中民營超過 4 萬家。按照以上數字計算，我國口腔醫療數字化僅三維顱頜面部成像儀及診斷分析系統或同類產品就存在巨大的市場空間，若以目前市場產品價格估計，市場需求至少在 2000 億以上。三維顱頜面部成像儀及診斷分析系統的應用和推廣是推動口腔正畸修復的重要保障，具有巨大的市場空間，但鑒于國內在這方面的研究還不成熟，依然沒有國產的能夠投入臨床的成熟產品，所以該系統的推廣具有重要的經濟意義和現實意義。

三維顱頜面部成像儀及診斷分析系統，解決傳統口腔臨床面臨的基于二維圖像顱面測量丟失深度信息的問題。 系統基于立體視覺原理，開發高效、準確（精度

本發明公開了一種可尋址測量局域波前的成像探測芯片，包括可尋址加電液晶微光學結構、面陣可見光探測器和驅控預處理模塊

光纖共聚焦顯微光譜與成像裝置是將光纖共聚焦光譜分析技術和顯微光學成像技術相融合的細胞檢測裝置，此裝置能夠同時獲得被測細胞的形態結構信息和反映細胞形態和成分特性的光譜信息，得到被測細胞定性、定量、定位的綜合分析信息。 光纖共聚焦顯微光譜與成像裝置包括光源照明系統、光纖共聚焦光譜分析系統、顯微成像和定位系統、數據分析系統，照明光源系統給光纖共聚焦光譜分析系統提供光源；光纖共聚焦光譜分析系統傳輸照明光照射細胞，開接收攜帶細胞信息的背向散射的光信號，獲取光譜信息進入數據分析系統分析；顯微成像和定位系統由照明系統照明，獲得反映細胞形態和結構的圖像信息進入數據分析系統；數據分析系統同時獲取被測細胞的顯微圖像和反映細胞形態和成分特性的光譜信息。 光纖共聚焦顯微光譜與成像裝置結合光纖共聚焦技術、后向散射光譜分析技術和顯微成像技術，提出了適用于同時獲取特定細胞的顯微圖像和光譜信息的細胞檢測裝置，能夠實時的獲取細胞的綜合信息。這就解決了目前技術不能夠在細胞水平上獲取特定位置的組織形態信息和光譜信息的技術問題。對于癌癥除檢測癌變細胞的顯微形態信息外，同時獲取相應細胞生化成分的光譜，光譜信息中既包括了形態變化對光的散射特性變化，也包括了細胞中成分變化導致的光吸收特性的變化信息，結合這兩種檢測技術的細胞分析裝置，能及時發現細胞的早期癌變，以便對癌癥實施全面而及時的診斷。而且，當前顯微成像技術和CCD光譜技術都是比較成熟的檢測技術，且CCD光譜技術可以進行實時分析，所以，本發明提供的裝置利用現有先進技術，大大提高癌變細胞的檢測精度，同時可以大大降低檢測成本。

這是一種基于非晶硅面陣探測器的射線數字成像技術，具有實時射線成像（RTR）、數字射線成像（DR）和三維層析（3D-CT）成像功能，可覆蓋國防和國民經濟各行業大、中、小型結構的高、低能（0.02-9MeV)工業射線數字檢測需求，并可根據用戶要求進行定制設計開發，特點如下：1. 集成度高、功能強大：以一套系統實現RTR、DR和3D-CT三種功能，實現構件RTR/DR/3D-CT快速檢測技術的開拓；2. 性價比高，軟件功能強大，可定制開發。 本技術已較為成熟，已為航空、航天、能源、核工業和特種設備行業開發多套此種設備，均已投入實際使用，獲得了良好的應用效果。市場應用前景良好，可解決發動機缸體、機匣、葉片、輪胎、輪轂、管道等產品的無損檢測與質量控制問題。 透度靈敏度優于GJB1187A-2001規定的B級像質；空間分辨率在5lp/mm以上；成像幀頻1-30f/s可調，檢測速度快。