基于聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束的材料微納結(jié)構(gòu)精確三維重構(gòu)技術(shù)
基于聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束(FIB-SEM)的切割-掃描操作, 能夠使材料的微納結(jié)構(gòu)在三維空間的精確重構(gòu)得以實(shí)現(xiàn)。經(jīng)過多年經(jīng)驗(yàn)的積累,已開發(fā)出一套針對擁有復(fù)雜微納結(jié)構(gòu)的金屬陶瓷復(fù)合材料進(jìn)行三維重構(gòu)的技術(shù)解決方案。該技術(shù)在固體氧化物燃料電池領(lǐng)域,為固體多孔電極材料的微納尺度精確定量分析提供了有力的技術(shù)支持。作為本領(lǐng)域的知名專家,美國西北工業(yè)大學(xué)的 Scott A. Barnett 教授曾在國際 SOFC 領(lǐng)域規(guī)模最大的年會 International Symposium on SOFC 中重
哈爾濱工業(yè)大學(xué)
2021-04-14