|
搜索
搜 索
高等教育領域數字化綜合服務平臺
同步熱分析儀
同步熱分析將熱重分析 TG 與差熱分析 DTA 或差示掃描量熱 DSC 結合為一體，在同一次測量中利用同一樣品可同步得到熱重與差熱信息。
上海和晟儀器科技有限公司
2025-05-06
一種用于識別半導體納米結構形貌的方法
本發明公開了一種基于支持向量機的納米結構形貌識別方法。首先生成訓練光譜，確定支持向量機的核函數與訓練方式；生成測試光譜及多種不同的支持向量機；利用測試光譜對支持向量機進行特征形貌識別準確率測試，找出識別準確率、訓練光譜數目和核函數之間的關系，作為支持向量機訓練的指導原則；對測試光譜添加不同量級的噪聲影響，將含有不同量級噪聲的測試光譜用于支持向量機中進行測試，找到在能保證正確識別率較高情形下所能添加的最大噪聲量級，作為另一指導原則；利用兩個指導原則，訓練得到最優的支持向量機；對真實待識別結構對應的測量光譜進行映射，識別其形貌。本發明可以對半導體納米結構的形貌特征進行快速、精確地識別。
華中科技大學
2021-04-11
一種不同形貌納米銀溶膠的制備方法
（專利號：ZL 201310104437.5） 簡介：本發明公開了一種成本低廉、操作簡單容易、在水溶液體系和常溫常壓下制備不同形貌納米銀溶膠的制備方法，屬于液相化學還原制備納米材料技術領域。其特征為：將堿性條件下的還原劑溶液在常溫常壓下加入含有表面活性劑的硝酸銀水溶液中，通過控制工藝條件、表面活性劑的種類和用量等，可制得球形、六邊形和圓盤狀等不同形貌、溶膠微粒在10-90nm范圍內分散穩定性好的納米銀溶膠。本發明工藝簡單、還原劑成本低廉、
安徽工業大學
2021-01-12
一種形貌和粒徑可控型淀粉納米顆粒的制備方法
本發明公開了一種以天然多糖為模板制備形貌和粒徑可控型淀粉納米顆粒的方法，利用生物酶法制備的淀粉短直鏈，在短直鏈自組裝制備納米顆粒的過程中，原位添加天然多糖模板，篩選不同分子結構的多糖模板，控制淀粉納米顆粒的形貌和粒徑，制備出適合不同需求的、形貌(空心、紡錘體、球體)和粒徑(20?120nm)可控的納米顆粒。本發明設備要求低，工藝簡單，操作簡便，反應溫和，反應時間短，效率高，適合大規模生產。本發明制
青島農業大學
2021-01-12
用于微形貌測量的磁懸浮觸針式位移傳感器
本發明為用于微形貌測量的磁懸浮觸針式位移傳感器。包括測量探頭、探頭支承座、讀數傳感器、信號處理控制裝置。其中觸針安裝在懸浮式探桿下端，探桿為磁體，探桿設置在探頭支承座內并與探頭支承座間留有間隙，探頭支承座為電磁鐵。讀數傳感器與測量探頭對應。設置有信號處理控制裝置分別與讀數傳感器及探頭支承座連接。本發明利用磁懸浮支承座和探桿間的磁力作用將探桿和觸針懸浮，徹底改變了傳統的機械固定接觸式探桿安裝方法，保證探桿和觸針的高順應性，使探桿只能在垂直于工件表面方向作直線運動，從本質拋掉了傳統傳感器的非線性誤差，大大提高測量精度，擴大了傳感器的測量范圍，適應了精密加工技術的發展，更好地滿足工業測量需要。
四川大學
2016-10-08
一種納米結構三維形貌測量方法及裝置
本發明公開了一種納米結構三維形貌測量方法及其裝置，可以同時測量納米結構線寬、深度、側墻角、線緣粗糙度、線寬粗糙度等三維形貌參數的方法及裝置。本發明方法步驟如下：將波長為紫外到近紅外波段的光束經分光、起偏、前后相位補償得到的橢圓偏振光投射到待測；采集待測結構表面反射零級衍射信號，計算得到納米結構測量穆勒矩陣；將測量穆勒矩陣與理論穆勒矩陣進行匹配，提取得到待測納米尺寸結構的三維形貌參數值。本發明所提供的納米結構三維形貌參數測量裝置，能為基于圖形轉移的批量制造方法如光刻和納米壓印等工藝中所涉及的一維和二維
華中科技大學
2021-04-14
基于球頭銑削加工的工件三維表面形貌的仿真方法
本發明提供一種基于超精密球頭銑刀加工的工件三維表面形貌建模及仿真方法，首先提取影響仿真三維表面形貌生成的刀位點，根據提取刀位點并結合刀具在加工過程中的運動學模型建立刀刃掃掠點云模型，然后設定仿真區域范圍內三維表面形貌采樣點，最終形成仿真區域內工件三維表面形貌。本發明建立了刀具參數、加工策略、加工參數與工件三維表面形貌的關系，能夠清晰地表征超精密加工條件下的三維表面形貌，進而可實現基于工件三維表面形貌的工藝參數優化。
華中科技大學
2021-04-11
一種不同形貌鋁合金釬劑納米粉的制備方法
（專利號：ZL 201310731891.3） 簡介：本發明公開了一種不同形貌鋁合金釬劑納米粉的制備方法，屬于焊接材料領域。該釬劑由一定比例的氯化鋁(AlCl3)和氟化鉀(KF)為原料，加入一定量的表面活性劑，通過硝酸(HNO3)、鹽酸(HCl)、檸檬酸(C6H8O7)和醋酸(CH3COOH)中的一種酸調節pH，利用化學沉淀法分別制備K3AlF6和KAlF4兩種納米粉體，然后將K3AlF6和KAlF4兩種納米粉體按照6.445:1的質量比
安徽工業大學
2021-01-12
一種真空下多探針摩擦磨損測試及原位形貌探測系統
本發明公開了一種真空下多探針摩擦磨損測試及原位形貌探測系統，包括主體和外部手動驅動裝置；所述主體包括腔體上蓋、安裝在腔體上蓋上面用于密封的光窗頂蓋和安裝腔體上蓋內部的多探針組件；其能在高真空下實現對具有不同功能的SPM針尖切換，使摩擦學測試及原位形貌探測在高真空環境下可相繼完成，且原位定位精度較高。由于更換針尖時無須打開腔體，確保了實驗樣品不受外界因素干擾，使實驗所得結果更為真實可信；不僅如此，也節省了實驗前期設備調整校準時間，提高實驗效率。
西南交通大學
2016-10-14
一種微納深溝槽結構側壁形貌快速測量方法及裝置
本發明公開了一種微納深溝槽結構側壁形貌快速測量方法及裝置，能夠同時快速測量微納深溝槽結構線寬、溝槽深度、側壁角、側壁粗糙度等側壁形貌參數。步驟為：將波長為從近紅外到中紅外的光束經起偏后得到的橢圓偏振光投射到待測結構表面；采集待測結構表面零級衍射信號，計算得到微納深溝槽結構測量紅外橢偏光譜；采用分波長建模方法分別計算在近紅外和中紅外波段理論橢偏光譜，采用分步光譜反演方法與實驗測量紅外橢偏光譜匹配，依次提取出溝槽結構參數和粗糙度參數。裝置包括紅外光源、第一至第四離軸拋物鏡、邁克爾遜干涉儀、平面反射鏡、起
華中科技大學
2021-04-14