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本發明公開了一種高壓大流量電-氣伺服比例閥，屬于氣動控制 領域。其包括先導伺服閥和兩位三通式主閥，伺服閥和主閥緊密相鄰 且相互連通，主閥包括主閥閥體，在主閥閥體中心的空腔內依次設置 有調整塊、主閥定位套、主閥閥套、主閥閥芯、主閥彈簧、彈簧調整 蓋、緊固套以及主閥位移傳感器，主閥定位套和調整塊相隔距離以形 成用于容置高壓氣體的控制腔 c，控制腔 c 通過開設在主閥閥體的通道 與伺服閥的控制口連通，主閥閥體的側壁上開設有用于供外界高壓氣 源通入的進氣腔 a，進氣腔

項目背景：鍛造作業存在難以克服的高溫、粉塵、噪聲、 振動等嚴重危害操作者健康的缺點，基于職業健康安全的要 求，鍛造生產實現自動化成為行業發展的必然趨勢。加之勞 動力成本的增加，智能制造成為發展趨勢，也是中國制造業 的重大發展戰略。鍛造伺服步進梁是鍛造自動化的專用設 備，是面向高端鍛造裝備制造企業，實現多工位連續鍛壓， 實現自動化抓取鍛件裝置，不使用關節機器人，通過鍛壓機 和步進梁手抓的同步自動控制，抓取工件實現多工位鍛壓過 程。具有大幅度提高生產效率降低了用工量和生產成本，效 率是普通機器人的 2～3 倍，價格卻只有機器人的 1/2～2/3， 是行業發展的關鍵核心設備。步進梁鍛造自動化生產線適用 于批量大、多工位連續化鍛造生產。通過步進梁自動化方式 實現大批量穩定化生產是世界知名鍛造公司采用的最先進 生產方式。目前成熟的產品和技術，都是由國外大公司壟斷， 國內尚無可替代的產品。鍛造伺服步進梁的主要難點在于步 進梁屬于三次元，各種參數的設計需要大量基礎科學的理論 知識儲備和實際經驗的積累。本研究主要解決國內鍛造伺服 步進梁面臨的困難和技術難點，突破關鍵技術，實現其國產 化替代，保障供應安全，降低成本。鍛造伺服步進梁主要部 分由左右單元框架，2 根梁，多對夾爪，鍛件有感知裝置， 操縱裝置，10 臺伺服馬達（上，下移動閉合各 4 臺，左右位 移 2 臺），2 臺減速器構成。鍛造伺服步進梁的上下移動由伺服馬達，滾珠絲桿來實現。夾爪的閉合由閉合伺服馬達左右、 前后旋轉滾珠絲桿來實現。梁的前進（右移）和后退（左移） 由減速器與齒輪、齒條驅動。 所需技術需求簡要描述：1.上料裝置位置移動，誤差出 現，導致步進梁第一工位夾爪抓取不到棒料；2.夾爪抓料移 動下一工位過程中掉料；3.夾爪抓料移動下一工位過程中放 料位置偏移；  對技術提供方的要求:大學研究機構；熟悉鍛造工藝和 伺服控制技術。具有智能制造技術的實施案例。 

本發明公開了一種基于力/力矩傳感器的三維力反饋手柄回復力控制結構及方法，結構包括底板、兩側固定架、三角板筋、Y軸電機、X軸電機、內框、三維力傳感器、拉伸彈簧、Z軸電機、配重機構、扭轉彈簧、力矩傳感器和手柄把手；方法為：三維力傳感器和力矩傳感器對力反饋手柄三個方向上的回復力實時檢測；將用戶當前期望的回復力值與當前手柄各自由度回復力輸出差值作為PID控制器的輸入；在調節過程中，利用各個環節對當前的手柄的回復力輸出迅速調整；若當前手柄各自由度回復力輸出值與用戶當前期望的回復力值一致時，將實現當前手柄各自由度回復力穩定跟蹤輸入。本發明結構簡單，采用PID調節方式實時穩定控制手柄的回復力大小。

以功能性紅曲霉固體發酵產降脂活性成分莫納克林 K，產量 2%，顏色鮮紅亮麗，為純天然功能食品原料，生產成本相對較低。以靈芝菌固體培養高產靈芝酸80mg/g,產品氣味醇香，為純天然功能食品原料。以此兩種功能成分添加到焙烤食品、面制品、醬制品等普通食品中，可生產降脂降壓、增強免疫力的焙烤食品、面制品、醬制品，目前國內市場上尚屬空白，該類產品的開發面市將是國內率先引領保健食品轉變為普通食品化，代替保健食品膠囊、口服液的傳統消費模式，具有更大更寬廣的市場空間。經濟效益、社會效益顯著。 

原子力顯微鏡是具有極高分辨率和穩定性的表面測量儀器，是納米技術發展的重要基礎。同時這項技術已廣泛應用于材料、生物、化學和環境等領域。本裝置利用自動化、光電轉換、光杠桿原理等技術，形象的演示了其工作原理。并通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的微弱的相互作用力來研究物質的表面結構信息。

研發階段/n內容簡介：本裝置是一種新型的注射機合鎖模裝置，結構簡化，成本降低30%。一般注射機為了達到較大的鎖模力，合模和鎖模裝置一般都需要使用各種液壓和機械增力方法，一般注射機有3個單獨的動力，一個產生封口壓力，一個注射，一個合鎖模。其中，鎖模力比較大。封口力比較小，這些動作要求使合模和鎖模裝置成為一套獨立的、龐大的、成本高的、結構復雜的機構。本裝置利用一個動力的動作產生兩個動力的作用，同時實現噴嘴對模具澆口的封口壓力和增力鎖模作用。利用絲桿動力或注射座前移動作力，使注射噴嘴與模具左半塊、模具右半

成果概況 恒側力游標尺專利產品（專利號：ZL200520078611.4）主要用于長度尺寸測量。其游標 尺由鎖定和活動兩部分構成，主尺與游標尺之間采用能預緊的滾動副連接，不存在任何配合 間隙，測量壓力保持恒定。顯示方式有游標刻線顯示和數字顯示兩種，產品型式有游標卡尺、 游標高度尺、游標深度尺以及一些專用測量裝置（如圓弧半徑游標卡尺）等。 主要特點 1．主尺與游標尺之間無間隙配合，消除了游標尺因不符合阿貝造成的誤差，因而測量 精度高； 2．恒定測量力設計，有效地減少了測量過程中隨機誤差因素的影響，重復測量精度穩 定； 3．結構簡單、價格便宜、方便實用； 4．數字顯示方式設有遠程通信接口，可以方便的實現數據通信與控制。 技術參數 量 程：① 卡 尺 0～125mm； 0～150mm； 0～200mm； 0～300mm； ② 高度尺 0～200mm； 0～300mm； 0～400mm； 0～500mm； 0～800mm; 0～1000mm； ③ 深度尺 0～200mm； 0～300mm； 0～400mm； 0～500mm； 0～800mm; 0～1000mm； 分 辨 率：①數顯 0.01mm； ②刻線 0.02mm 通信方式：RS232 市場前景 游標尺屬于精密量具，廣泛應用于國民經濟的各行各業，市場需求十分廣闊。社會效益 和經濟效益顯著

產品詳細介紹CP-1防水卷材沖片機(力特) 防水卷材沖片機用于將防水卷材、橡膠、塑膠、皮革及其他特殊材料沖切成各種標準規定的試片，供試驗時用。亦可充當小型沖床使用。   技術參數： 1、行程：大于25mm 2、工作臺規格：320mm×228mm 3、裁刀規格：按用戶或標準要求（選配） 4、外型尺寸：520mm×450mm×520mm 5、凈重：85kg

實驗原理 AFM是SPM家族中應用領域最為廣泛的表面觀察與研究工具之一。其工作原理基于原子之間的相互作用力。當一根十分尖銳的微探針在縱向充分逼近樣品表面至數納米甚至更小間距時，微探針尖端的原子和樣品表面的原子之間將產生相互作用的原子力。原子力的大小與間距之間存在一定的曲線關系。在間距較大的起始階段，原子力表現為引力，隨著間距的進一步減小，由于價電子云的相互重疊和兩個原子核的電荷間的相互作用，原子力又轉而表現為排斥力。這種排斥力隨著間距的縮短而急劇增大。AFM正是利用原子力與間距之間的這些關系，通過檢測原子間的作用力而獲得樣品表面的微觀形貌的。   儀器概述 AFM采用對微弱力極其敏感的微懸臂作為力傳感器──微探針。微懸臂一端固定，另一端置有一與微懸臂平面垂直的金字塔狀微針尖。當針尖與樣品之間的距離逼近到一定程度時，兩者間將產生相互作用的原子力，其中切向力（摩擦力）Ft使微懸臂扭曲，法向（縱向）力Fn將推動微懸臂偏轉。我們所關心的主要是縱向力Fn，它與針尖──樣品間距成一定的對應關系，即與樣品表面的起伏具有對應關系。微懸臂的偏轉量十分微小，無法進行直接檢測，采用光學方法將偏轉量放大，可推知微懸臂偏轉量（即原子力）的大小，最終獲得樣品表面的微觀形貌。   儀器特點 特有的臥式探頭 臥式AFM探頭設計，使原子力作用方向與重力方向垂直而互不干擾；降低了探頭的整體重心；克服了原有粗調與微調逼近機構的垂直蠕動；具有獨特的臥式可視化光路。探頭及儀器性能更加穩定和優越。   穩定的三軸壓電掃描器 采用互相正交的三軸壓電陶瓷掃描控制器，X、Y、Z三軸壓電陶瓷之間互不耦合，可保證掃描圖像不因耦合而失真；掃描器具有更好的掃描線性和獨立性、更高的強度和剛度，兼具更強的掃描驅動力，能同時適用于較小與較大、較輕與較重樣品的掃描成像。   優化的檢測與控制系統 采用優化的微納米掃描與反饋控制電路系統，配以多路高精度A/D&D/A控制接口，可獲得更高的掃描分辨率、更好的重復性和更佳的圖像質量。   完善的軟件界面與功能 功能強大、界面友好，可適用于Windows XP/Win7/Win8/Win10等操作系統。一般操作者均可輕松而熟練地掌握，只需點擊鼠標，即可完成從圖像掃描到圖像處理及數據信息計算的全部操作。可用鼠標任意選擇局部掃描區域，實現圖像平移、定位和縮放；可設定掃描次數并自動控制掃描停止；具有實現X、Y方向的面掃描和線掃描的功能；可獲得樣品表面的納米級三維形貌結構和截面線；高質量的彩色/黑白平面圖像顯示與三維立體圖像顯示；具有圖像的二維和三維納米標尺標注功能及粒徑測量功能；具備納米級表面微觀粗糙度的統計及計算功能；可精確測定樣品表面的微納米級臺階高度和深度；完善的圖像處理功能，包括裁剪、粘貼、旋轉、對比調節、亮度調節、顏色調整、背景色調整、圖像平滑、濾波等。   簡單便捷的儀器操作 AFM的操作十分簡單和便捷，一般操作人員即可完成，無需專人操作和維護。安裝探針、安裝樣品、粗調和微調進樣、圖像掃描、圖像存儲等操作，均可在1分鐘內完成。特別適用于科學研究、教學實驗及產品檢測。   高穩定性與抗干擾能力 AFM既可在良好的實驗條件下完美工作，也可在有一般實驗室、普通桌面、有輕微振動、有環境干擾、有光照等條件下正常運作，快速掃描觀察各種微納米樣品，獲得理想的圖像和微納米結構信息。具備更好的穩定性和抗震性，更強的抗（光、電、磁等）干擾能力，更快的掃描速度（最快1幅圖像/1~6秒，作為對比，進口儀器的掃描速率一般為1幅圖像/10~20分鐘甚至更慢）。   高適用性廣泛應用領域 可同時適用于科學研究、本科生和研究生的教學實驗及納米技術產品的檢測，廣泛適用于各種金屬/非金屬、導體/非導體、磁性/非磁性材料樣品的掃描檢測。對被測材料樣品無特殊要求，免去繁瑣的樣品制備過程，可直接掃描獲得微納米結構信息。   實驗內容與典型實驗數據 部分掃描測試樣品的AFM圖像   部件列表 描述 數量 原子力顯微鏡探頭 1 控制機箱 1 直流高壓電源 1 A/D&D/A控制接口卡 1 AFM微探針 15組60 tips USB光學顯微鏡 1 一體機, 含AFM掃描控制軟件 1 樣品 5 剪刀、鑷子、啟子、放大鏡等工具 1