|
搜索
搜 索
高等教育領(lǐng)域數(shù)字化綜合服務(wù)平臺(tái)
.jpg){kind=logo}
不對(duì)稱(chēng)負(fù)載下無(wú)刷雙饋電機(jī)獨(dú)立發(fā)電系統(tǒng)勵(lì)磁控制方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種不對(duì)稱(chēng)負(fù)載下無(wú)刷雙饋電機(jī)獨(dú)立發(fā)電系統(tǒng)勵(lì) 磁控制方法，該方法是基于正、負(fù)序雙 dq 坐標(biāo)系，將無(wú)刷雙饋電機(jī)的 功率繞組 PW 電壓分解為正序分量和負(fù)序分量，然后分別采用 PW 電 壓正序分量控制器和負(fù)序分量控制器調(diào)節(jié) PW 電壓正序和負(fù)序分量的 幅值和頻率，獲得所需的控制繞組 CW 電壓正序和負(fù)序分量，CW 電 壓正、負(fù)序分量相加即得最終的 CW 電壓給定值，根據(jù)該給定值產(chǎn)生 PWM 調(diào)制信號(hào)，進(jìn)而驅(qū)動(dòng)逆變器對(duì) CW 進(jìn)行控制，最終使 PW 電壓 正序分量的幅值和頻率分別跟蹤給定值，P
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種三角波激勵(lì)磁場(chǎng)下的磁納米溫度測(cè)量方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種三角波激勵(lì)磁場(chǎng)下的磁納米溫度測(cè)量方法，屬于納米測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。該方法具體為：（1）將磁納米樣品放置于待測(cè)對(duì)象處；（2）在磁納米樣品所在區(qū)域施加三角波激勵(lì)磁場(chǎng)；（3）檢測(cè)三角波激勵(lì)磁場(chǎng)-時(shí)間曲線和磁納米粒子樣品的磁化強(qiáng)度-時(shí)間曲線；（4）依據(jù)三角波激勵(lì)磁場(chǎng)曲線和磁化強(qiáng)度曲線得到磁納米粒子磁化曲線即激勵(lì)磁場(chǎng)-磁化強(qiáng)度曲線，對(duì)該曲線采樣獲得激勵(lì)磁場(chǎng) Hi 下磁納米粒子樣品的磁化強(qiáng)度 Mi；（5）以激勵(lì)磁場(chǎng) H
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于回流焊的光纖光柵磁傳感器的制備方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于回流焊的光纖光柵磁傳感器的制備方法， 該方法包括以下步驟：1)選取長(zhǎng)方體形狀的硅片并進(jìn)行超聲清洗；2) 用磁控濺射的方法在硅片上濺射一層一定厚度的磁致伸縮薄膜；3)選 取可以在高溫條件下使用的光纖光柵并進(jìn)行超聲清洗；4)用磁控濺射 的方法在光纖光柵上濺射一層一定厚度的金屬薄膜；5)將鍍了金屬薄 膜的光纖光柵固定在磁致伸縮薄膜上；6)采用回流焊的方法，將鍍了 金屬薄膜的光纖光柵焊接在磁致伸縮薄膜上，
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于磁納米粒子交流磁化率虛部的成像方法
本發(fā)明公開(kāi)一種磁納米粒子濃度成像方法，其主要?jiǎng)?chuàng)新在于采用交流磁化率的虛部來(lái)進(jìn)行濃度成像，有效提高磁納米粒子成像的空間分辨率。對(duì)磁納米粒子施加交流磁場(chǎng)和直流梯度磁場(chǎng)，檢測(cè)出一次諧波幅值和相位。利用幅值差和相位差或直接利用磁化強(qiáng)度變化量計(jì)算出磁納米粒子交流磁化率的實(shí)部和虛部。通過(guò)控制直流梯度磁場(chǎng)的零磁場(chǎng)點(diǎn)位置，求解出不同空間位置的磁納米粒子交流磁化率的實(shí)部和虛部，進(jìn)而利用交流磁化率的虛部實(shí)現(xiàn)磁納米濃度成像。從仿真數(shù)
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種適用于線型缺陷的磁軛式局部微磁化檢測(cè)裝置
本發(fā)明公開(kāi)了一種適用于線型缺陷的磁軛式局部微磁化檢測(cè)裝 置，該裝置包括磁敏感元件部分，磁感應(yīng)部分及磁軛式局部微磁化部 分，磁敏感元件部分包括磁敏感元件、引線端、磁引導(dǎo)芯和引導(dǎo)芯套 筒，磁引導(dǎo)芯由長(zhǎng)短不一的長(zhǎng)方體形引導(dǎo)芯構(gòu)成；磁感應(yīng)部分由繞制 在引導(dǎo)芯套筒外側(cè)的磁感應(yīng)線圈和引線端組成；由引導(dǎo)芯套筒支撐固 定的磁軛式局部微磁化部分，包括方形導(dǎo)磁構(gòu)件、磁軛式雙磁鐵以及 斜向雙導(dǎo)磁構(gòu)件，該部分將磁場(chǎng)量導(dǎo)入待檢測(cè)金屬體內(nèi)，達(dá)到局部微 磁化的效果，通過(guò)與磁引導(dǎo)芯連接的磁敏感元件和引導(dǎo)芯套筒外的磁 感應(yīng)線圈，傳遞
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于磁納米粒子交流磁化率的溫度測(cè)量方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于磁納米粒子交流磁化率的溫度測(cè)量方法，所述方法包括如下步驟：(1)確定待測(cè)對(duì)象區(qū)域，并利用通電螺線管對(duì)待測(cè)區(qū)域施加交流激勵(lì)磁場(chǎng)；(2)利用探測(cè)線圈采集交流激勵(lì)磁場(chǎng)下待測(cè)區(qū)域的磁感應(yīng)強(qiáng)度 H1；(3)保持交流激勵(lì)磁場(chǎng)不變，將磁納米樣品放置于待測(cè)對(duì)象的待測(cè)區(qū)域內(nèi)，利用探測(cè)線圈采集施加磁納米樣品之后待測(cè)區(qū)域的磁感應(yīng)強(qiáng)度 H2；(4)計(jì)算磁納米粒子的交流磁化率χ的實(shí)部χ’和虛部χ”；其中的 A1，A2，α都
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于磁納米粒子一次諧波幅值的成像方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于磁納米粒子一次諧波幅值的成像方法。采用交流磁化強(qiáng)度一次諧波幅值實(shí)現(xiàn)磁納米濃度成像，只需在一個(gè)方向施加高頻正弦磁場(chǎng)并在不同方向提供掃描磁場(chǎng)便可實(shí)現(xiàn)一維、二維以及三維空間的掃描；用低頻三角波掃描磁場(chǎng)或低頻正弦波掃描磁場(chǎng)控制空間區(qū)域零磁場(chǎng)點(diǎn)的位置，求解出不同空間位置的磁納米粒子的一次諧波幅值，最終實(shí)現(xiàn)磁納米濃度成像，從而避免了通過(guò)改變直流電源的大小來(lái)移動(dòng)零磁場(chǎng)點(diǎn)掃描空間，有效提高了磁納米粒子成像的
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于矢量變換與信號(hào)濾波的定子磁鏈計(jì)算方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于矢量變換與信號(hào)濾波的定子磁鏈計(jì)算方法。采用交流電動(dòng)機(jī)定子磁鏈的電壓模型，對(duì)輸入的反電動(dòng)勢(shì)矢量進(jìn)行幅值和相位變換直接得到原始的定子磁鏈?zhǔn)噶浚缓蠼?jīng)過(guò)信號(hào)濾波與補(bǔ)償處理得到期望的定子磁鏈。分別設(shè)計(jì)了基于可編程的低通濾波器(LPF)和帶通濾波器(BPF)的矢量變換方案，并且根據(jù)計(jì)算磁鏈幅值盡快收斂于給定磁鏈值的原則得到優(yōu)化函數(shù)，對(duì) LPF 與 BPF 的優(yōu)點(diǎn)進(jìn)行組合，得到性能最優(yōu)的磁鏈計(jì)算方法。進(jìn)一步的
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于體表反向場(chǎng)的內(nèi)外傷漏磁檢測(cè)區(qū)分方法與裝置
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于體表反向場(chǎng)的內(nèi)外傷漏磁檢測(cè)區(qū)分方法及裝置。該方法的特征為：將被檢測(cè)導(dǎo)磁構(gòu)件磁化，在上述被磁化導(dǎo)磁構(gòu)件體表內(nèi)施加反向磁感應(yīng)場(chǎng) B<sub>反</sub>，與體內(nèi)原有磁感應(yīng)場(chǎng)B<sub>原</sub>發(fā)生矢量疊加抵消，在體表內(nèi)形成零磁感應(yīng)區(qū)域，使得出現(xiàn)在該體表內(nèi)區(qū)域的缺陷(也即外傷)因無(wú)漏磁場(chǎng)產(chǎn)生而無(wú)法被探測(cè)到；而出現(xiàn)在非體表零磁感應(yīng)區(qū)的缺陷均有漏磁場(chǎng)產(chǎn)生而可以被探測(cè)到，包括內(nèi)、外傷；然后采用磁敏元件分別布置靠近于零磁感應(yīng)區(qū)和非零磁感應(yīng)
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于磁表征的鐵磁性材料表面輪廓檢測(cè)識(shí)別方法
本發(fā)明提供一種基于磁表征的鐵磁性材料表面輪廓檢測(cè)識(shí)別方法，該方法先將磁敏元件以 0-5<i>mm</i>的提離距離靠近待檢鐵磁性材料表面，拾取近表空氣域內(nèi)磁場(chǎng)特征，并轉(zhuǎn)化為電壓信號(hào)；再采用電壓信號(hào)幅值比較識(shí)別判斷法，或者檢測(cè)信號(hào)波形圖方法進(jìn)行表面輪廓識(shí)別判斷。本發(fā)明為非接觸式提離檢測(cè)方式，可以實(shí)現(xiàn)在線輪廓檢測(cè)識(shí)別；檢測(cè)手段能夠直接穿透灰塵及污垢等物質(zhì)而不受干擾，不需要高的待檢測(cè)表面清潔度及檢測(cè)工況環(huán)境光線要求。該方法原理是基于鐵磁性材料在加工完后的剩磁在地磁場(chǎng)作用下的磁表征現(xiàn)
華中科技大學(xué)
2021-04-14