幅無載波牛頓環干涉條紋分析技術
本成果提出了針對單幅無載波牛頓環干涉條紋的分析技術,可對球面元件進行干涉測量,獲取球面曲率半徑和頂點位置,也可以用于測量介質折射率和光源波長。
一、項目分類
關鍵核心技術突破
二、技術分析
成果提出了針對單幅無載波牛頓環干涉條紋的分析技術,可對球面元件進行干涉測量,獲取球面曲率半徑和頂點位置,也可以用于測量介質折射率和光源波長。相關技術于2013年提出,利用現代信號/數據處理方法,從一個新的角度解釋了牛頓環現象的本質,直接可以通過單幅牛頓環條紋圖即可提取出被測球面曲率半徑、頂點位置(牛頓環環心)。相關技術在國內外均為首創,經過8年的開發和改進,在科研和教學領域各開發了一個原理樣機,具有很好的精度和很低的耗時的特點。相較其它技術而言,技術手段非常簡潔,無需昂貴的光學硬件(移相器、載波調制),具有更高的抗干擾和抗噪聲能力,在低分辨成像和局部條紋中仍然可以獲得高精度測量結果(其它同類方法失效)。可以推廣到任何球面干涉測量領域,測量對象可以是任何球面元器件(眼鏡、光纖連接器、天文望遠鏡等),也可以用于折射率和波長測量領域,是一個應用面很廣的基礎技術。
北京理工大學
2022-08-17