一種 RFID 天線的外觀缺陷檢測系統(tǒng)及其方法
本發(fā)明公開了一種用于 RFID 天線的外觀缺陷檢測方法,包括:攝像裝置的預(yù)標(biāo)定步驟;將攝像裝置移動至所需位置,并通過與條形光源或背光光源之間的配合,對待檢測的天線拍攝其圖像;采集所拍攝的圖像并對其執(zhí)行邊緣檢測,由此獲得檢測圖像內(nèi)的天線數(shù)量并分別記錄其長、寬和中心點(diǎn)坐標(biāo)值等信息;以及根據(jù)需求,選擇性執(zhí)行線寬檢測、圖案斷線/粘連檢測和毛刺/印刷污染檢測等項(xiàng)目中的至少一項(xiàng),由此獲知所檢測天線的質(zhì)量結(jié)論。本發(fā)明還公開了相應(yīng)的檢測系統(tǒng)。通過本發(fā)明,能夠以結(jié)構(gòu)緊湊、便于操作的方式來對 RFID 天線執(zhí)行質(zhì)量檢測
華中科技大學(xué)
2021-04-14