隨著集成電路工藝的進步,MOS管的特征尺寸越來越小,電路的工作電壓也不斷下降,柵氧化層的厚度也越來越薄,在這種趨勢下,將可控硅ESD防護器件的觸發電壓降低到可觀的電壓值內,使用高性能的ESD防護器件來泄放靜電電荷以保護柵極氧化層顯得十分重要。本發明涉及可用于65nm半導體工藝的靜電保護(ESD)器件,特別涉及低電壓觸發的SCR器件。
本發明提供一種采用新型技術減小器件的ESD觸發電壓的PMOS嵌入的低壓觸發用于ESD保護的SCR器件。本發明采用PMOS進行觸發NMOS導通,NMOS的導通電流觸發SCR晶閘管,從而減小SCR器件的ESD觸發電壓。ESD脈沖信號施加在Anode和Cathode之間,PMOS首先被觸發導通,PMOS開通之后,觸發NMOS導通,NMOS導通后,其導通電流觸發晶閘管SCR導通。晶閘管電流(SCR current)導通大部分ESD 電流,從而實驗了ESD保護。
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