本發明公開了一種混合等離子效應輔助的槽式波導TE模檢偏器,該檢偏器由下至上依次為硅基襯底、掩埋氧化層、檢偏部件和上包層,其中掩埋氧化層生長于硅基襯底的上表面,上包層覆蓋掩埋氧化層的上表面,檢偏部件水平生長于掩埋氧化層的上表面,并被上包層覆蓋;所述檢偏部件包括輸入波導、過渡波導A、直通波導、過渡波導B,輸出波導和右路直通波導。本發明提供的槽式波導TE模檢偏器具有低插入損耗、高消光比、大制造容差以及大工作帶寬的優點。