本發明公開了一種基于投影殘差的分類方法,包括如下步驟:步驟一、改變測試樣本中每個物體k的圖像集合Ik,使圖像集合Ik成為互相正交的、低維的特征圖像空間FIk;步驟二、提取每個互相正交的、低維特征圖像空間FIk的主成分Vk,j;步驟三、計算待測試圖像x的映射到每個特征圖像空間FIk的投影殘差;步驟四、判斷在某個物體的特征圖像空間的投影殘差最小,待測試圖像x即為該投影殘差最小的物體的圖像。