本發明公開了一種低導通電阻 VDMOS 器件及制備方法,在傳統的 VDMOS 器件結構中引入一塊與 源區摻雜雜質相同的摻雜區。該摻雜區位于柵氧層正下方且與基區和柵氧層緊密接觸。相應地,新摻雜 區上方的柵極采用中空結構。本發明 VDMOS 器件可有效降低溝道導通電阻和頸區電阻,從而降低 VDMOS 器件的導通電阻;同時,采用中空結構的柵極既可避免新摻雜區對擊穿電壓的影響,也可降低 柵極與漏極間結電容,提高 VDMOS 的開關速度。本發明方法工藝簡