本發(fā)明公開(kāi)了一種導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)方法及裝置。該方法采用單一穿過(guò)式磁化線圈對(duì)導(dǎo)磁構(gòu)件進(jìn)行局部單一軸向超強(qiáng)磁化,激發(fā)出其上縱、橫向傷的泄漏磁場(chǎng)并利用磁敏元件陣列加以拾取,實(shí)現(xiàn)其上縱、橫向傷的全面檢出;再通過(guò)信號(hào)求和比較法進(jìn)行縱、橫向傷檢出信號(hào)區(qū)分并對(duì)其進(jìn)行信號(hào)幅值補(bǔ)償,實(shí)現(xiàn)同損傷當(dāng)量的縱、橫向傷等信號(hào)幅值與靈敏度的統(tǒng)一判斷。裝置包括穿過(guò)式線圈、磁敏組件,信號(hào)識(shí)別補(bǔ)償組件和數(shù)據(jù)采集卡。本發(fā)明將傳統(tǒng)的檢測(cè)方法進(jìn)行簡(jiǎn)化與統(tǒng)一,降低成本;實(shí)現(xiàn)導(dǎo)磁構(gòu)件與檢測(cè)單元之間簡(jiǎn)單的直進(jìn)式相對(duì)掃查運(yùn)動(dòng),完成高速高效地
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