成果簡介:光學(xué)投影式三維形貌測量方法是一種非接觸、高精度、快速獲取被測物三維形貌的方法。基于此方法開發(fā)研制而成的測量系統(tǒng)可在1分鐘內(nèi)獲取測量區(qū)域10cm2-400cm2內(nèi)被測物三維形貌,測量分辨率可達(dá)到200μm。該系統(tǒng)硬件部分包括小型化條紋投射裝置、高分辨率數(shù)字CCD相機和控制電路,自行編寫的軟件擁有儀器控制、圖像采集、分析和可視化等功能并嵌套相位解包裹專用算法。便攜式設(shè)計使該套系統(tǒng)可方便應(yīng)用于車間、廠礦等各種測量環(huán)境。
項目來源:自行開發(fā)
技術(shù)領(lǐng)域:測量測試
掃碼關(guān)注,查看更多科技成果