本發明公開了一種測定荷電異質性顆粒零凈質子電荷點的方法,其特征是測定并繪制荷電
異質性顆粒在兩種不同濃度的惰性電解質溶液中顆粒表面的 ζ 電位與惰性電解質溶液 pH的關系
曲線,對兩條曲線的兩個交點之間的曲線進行回歸分析,建立 ζ~pH 的回歸模型 f 1 (x)和 f 2 (x),回
歸系數 R 2 ≧0.99;求函數 F(x)=f 1 (x)-f 2 (x)取得極大值所對應的 x 值即為該荷電異質性顆粒零凈質
子電荷點 pH PZNPC 。本方法簡單方便,所需樣品少,易于實施。
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