本發明公開了旋轉鏡像綜合孔徑輻射計及測量方法,包括旋轉鏡像陣列、接收通道陣列和旋轉鏡像綜合孔徑處理器;旋轉鏡像陣列包括天線陣、反射板和旋轉機構,反射板與天線陣面成角度設置,旋轉機構用于使得天線陣和/或反射板轉動;接收通道陣列與旋轉鏡像陣列連接,用于對旋轉鏡像陣列的輸出進行放大、變頻和濾波處理;旋轉鏡像綜合孔徑處理器與接收通道陣列連接,用于對接收通道陣列的輸出進行旋轉鏡像綜合孔徑變換后獲得輸出。本發明以較小的天線陣元數獲取等效的更大天線陣的效果,即以較少的天線陣元數獲取更高的空間分辨率。相較于傳統的綜合孔徑輻射計,旋轉鏡像綜合孔徑輻射計的空間分辨率更高、而所需的天線陣元數更少。
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