一、采購(gòu)標(biāo)的需實(shí)現(xiàn)的主要功能 用于材料表面微觀形貌觀察、成分采集與分析及晶體學(xué)取向分析。配備原位微納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，用于材料拉伸、壓縮、彎曲、劃痕、壓痕等原位力學(xué)性能測(cè)試，研究材料在力、熱等多場(chǎng)耦合條件下結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系。

二、采購(gòu)標(biāo)的數(shù)量 1項(xiàng)

三、采購(gòu)標(biāo)的需滿足的主要技術(shù)指標(biāo) 3.1 二次電子分辨率：優(yōu)于0.9 nm@15 kV，優(yōu)于1.3 nm@1 kV； 3.2 加速電壓：20 V～30 kV； 3.3 放大倍數(shù)：10 X～1,000,000 X，粗、細(xì)調(diào)模式連續(xù)可調(diào)； 3.4 工作距離可調(diào)范圍：不小于1 mm～40 mm； 3.5 可裝載最大樣品直徑尺寸：不小于150 mm； 3.6 樣品室內(nèi)部尺寸：不小于300 mmX300 mm； 3.7 樣品臺(tái)：5軸全自動(dòng)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，承重不小于5 kg； 3.8 探測(cè)器：二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、樣品室內(nèi)彩色紅外CCD相機(jī)； 3.9 能譜儀（EDS）：硅漂移（SDD）電制冷探測(cè)器，有效面積不小于60 平方，能譜分辨率：Mn Ka保證優(yōu)于129 eV（計(jì)數(shù)率130,000 cps），能譜分析范圍：Be4～Cf98； 3.10 電子背散射衍射儀（EBSD）：掃描和指標(biāo)化速度4500點(diǎn)/秒，像素分辨率1244X1024，取向精度優(yōu)于0.1度； 3.11 高低溫原位力學(xué)系統(tǒng)：最大載荷5 kN，載荷精度：1N，位移范圍不小于0~25 mm，與EBSD聯(lián)用試樣可傾斜70 ℃，加熱附件溫度不低于1000 ℃，溫度控制精度：1 ℃，低溫附件溫度不高于-50 ℃； 3.12 SEM下室溫原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)：最大載荷不低于500 mN，載荷分辨率優(yōu)于6 nN，室溫下可以做壓痕、劃痕、彎曲、斷裂、原位成像、摩擦磨損； 3.13 SEM下高溫原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)：測(cè)試溫度800 ℃，溫度分辨率：±1 ℃，溫度穩(wěn)定性小于1 ℃。

四、采購(gòu)標(biāo)的需滿足的服務(wù)要求 4.1 簽訂合同后，保證到貨時(shí)間6個(gè)月內(nèi)，且不受禁運(yùn)影響； 4.2 儀器安裝：供貨商在接到用戶安裝通知后，須在5個(gè)工作日內(nèi)安排有經(jīng)驗(yàn)的工程師到現(xiàn)場(chǎng)安裝儀器，直至安裝、調(diào)試驗(yàn)收完畢； 4.3 人員培訓(xùn)：儀器安裝后，對(duì)使用人員由廠商提供不少于3個(gè)工作日的操作培訓(xùn)；儀器質(zhì)保期內(nèi)，儀器廠商需再提供至少1次高階應(yīng)用培訓(xùn)，培訓(xùn)時(shí)間不少于1周，培訓(xùn)地點(diǎn)為客戶現(xiàn)場(chǎng)； 4.4 儀器維修：儀器自驗(yàn)收簽字之日起，整機(jī)免費(fèi)保修1年，制造廠家可提供終身維修服務(wù)。