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PID激光加熱控制系統(tǒng)
所屬領(lǐng)域:
項(xiàng)目成果/簡(jiǎn)介:
在傳統(tǒng)的 DSC 應(yīng)用中，電阻接觸式加熱方法被廣泛采用，但這種方法可能導(dǎo)致樣品遭受化學(xué)或物理干擾，響應(yīng)時(shí)間較長(zhǎng)；而新型的激光加熱技術(shù)以其高效率、高精度的溫度控制以及非接觸式加熱方式而備受矚目。激光加熱能夠?qū)崿F(xiàn)更加快速的溫度調(diào)節(jié)，同時(shí)無(wú)接觸加熱避免了催化背景的存在，有效克服了電阻接觸式加熱中的多數(shù)缺陷。
1、激光加熱技術(shù)具有高精度、高效率的特性，使得樣品加熱過(guò)程顯著加快，進(jìn)而大幅提升溫度變化速率和溫控精準(zhǔn)度，實(shí)驗(yàn)中能將溫度穩(wěn)定在0.05度的范圍內(nèi)。
2、在加熱過(guò)程中僅在樣品及其鄰近區(qū)域形成高溫環(huán)境，而遠(yuǎn)離熱源的腔體部分則能夠維持接近室溫的溫度條件。同時(shí)，這種非接觸式加熱方法避免了催化背景的引入，防止樣品遭受物理或化學(xué)干擾。
應(yīng)用范圍:
本發(fā)明涉及差示掃描量熱（DSC）技術(shù)，尤其是一種激光加熱型差示掃描量熱儀。該發(fā)明可作為配件應(yīng)用于掃描電子顯微鏡（SEM）、X 射線光電子能譜（XPS）、X 射線吸收譜（XAS）、質(zhì)譜儀（MS）等儀器，為上述手段提供同步實(shí)時(shí)的非平衡態(tài)下的熱力學(xué)參數(shù)。
1、在化工領(lǐng)域，該項(xiàng)專利精確測(cè)量化學(xué)反應(yīng)發(fā)熱，且并不會(huì)在化學(xué)反應(yīng)中帶來(lái)不必要的副反應(yīng)。
2、在材料領(lǐng)域，該專利可以控制營(yíng)造一個(gè)相對(duì)溫和的反應(yīng)條件，量化實(shí)驗(yàn)過(guò)程，確保實(shí)驗(yàn)成功。
3、采用的加熱方法由于其不接觸、易控制的特點(diǎn)，與原位電子顯微鏡有很好的適配，目前已經(jīng)成功應(yīng)用于氣氛條件下原位電子顯微鏡加熱成像。
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